Mm-wave characterization: a general purpose on-wafer test system / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Pisani, Umberto; B., Hughes. - STAMPA. - (1992), pp. 86-88. (Intervento presentato al convegno Fifth Australian millimeter and submillimeter wave symposium tenutosi a Adelaide (Australia) nel 11-13 August 1992).

Mm-wave characterization: a general purpose on-wafer test system

FERRERO, ANDREA PIERENRICO;PISANI, Umberto;
1992

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2497896
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