An improved calibration technique for on-wafer large signal device chracterization suitable up to millimeter waves / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Pisani, Umberto. - STAMPA. - (1992), pp. 95-96. (Intervento presentato al convegno CPEM Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Paris (France) nel 9-12 June 1992).
An improved calibration technique for on-wafer large signal device chracterization suitable up to millimeter waves
FERRERO, ANDREA PIERENRICO;PISANI, Umberto
1992
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2497891
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo