Investigation on the Susceptibility of Hall-Effect Current Sensors to EMI / Aiello, Orazio; Crovetti, Paolo Stefano; Fiori, Franco. - STAMPA. - (2011), pp. 368-372. ((Intervento presentato al convegno EMC Europe 2011 tenutosi a York nel Sept. 2011.

Investigation on the Susceptibility of Hall-Effect Current Sensors to EMI

AIELLO, ORAZIO;CROVETTI, Paolo Stefano;FIORI, Franco
2011

9780954114633
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
06078660.pdf

non disponibili

Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 387.41 kB
Formato Adobe PDF
387.41 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia
Pubblicazioni consigliate

Caricamento pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2460540
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo