Investigation on the Susceptibility of Hall-Effect Current Sensors to EMI / Aiello, Orazio; Crovetti, Paolo Stefano; Fiori, Franco. - STAMPA. - (2011), pp. 368-372. (Intervento presentato al convegno EMC Europe 2011 tenutosi a York nel Sept. 2011).
Investigation on the Susceptibility of Hall-Effect Current Sensors to EMI
AIELLO, ORAZIO;CROVETTI, Paolo Stefano;FIORI, Franco
2011
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https://hdl.handle.net/11583/2460540
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