Electrical characterization of self-aligned titanium silicide SBDs formed by furnace annealing / Barbarini, Elena; Ferrero, Sergio; Pirri, Candido. - (2010). (Intervento presentato al convegno Electron Devices and Solid-State Circuits (EDSSC), 2010 IEEE International Conference nel 15-17 dec 2010).
Electrical characterization of self-aligned titanium silicide SBDs formed by furnace annealing
BARBARINI, ELENA;FERRERO, SERGIO;PIRRI, Candido
2010
File in questo prodotto:
	
	
	
    
	
	
	
	
	
	
	
	
		
			
				
			
		
		
	
	
	
	
		
			Non ci sono file associati a questo prodotto.
		
		
	
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
			        	
	
		
		
			
			Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: 
			    https://hdl.handle.net/11583/2458614
			
		
	
	
	
			      	Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
