Behavioral modeling of IC memories from measured data / Stievano, IGOR SIMONE; Rigazio, Luca; Canavero, Flavio; Cunha, T. R.; Pedro, J. C.; Teixeira, H. M.; Girardi, A.; Izzi, R.; Vitale, F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - STAMPA. - 60:1(2011), pp. 3471-3479. [10.1109/TIM.2011.2128570]

Behavioral modeling of IC memories from measured data

STIEVANO, IGOR SIMONE;RIGAZIO, LUCA;CANAVERO, Flavio;
2011

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