Archivio Istituzionale della RicercaA New Soft-Error Resilient Voltage-Mode Quaternary Latch / Rhod, E.; Sterpone, Luca; Carro, L.. - STAMPA. - (2010), pp. 200-208. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems tenutosi a Kyoto (Japan) nel 6-8 Oct. 2010).
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https://hdl.handle.net/11583/2372148
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