Investigation on the Susceptibility of Integrated Current Sensors to EMI / Aiello, Orazio; Fiori, Franco. - STAMPA. - (2009), pp. 33-37. (Intervento presentato al convegno EMC Compo 09 tenutosi a Toulouse nel nov. 2009).

Investigation on the Susceptibility of Integrated Current Sensors to EMI

AIELLO, ORAZIO;FIORI, Franco
2009

2009
9782876490581
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lv_EMC_compo09_05102009 _3_.pdf

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