Study of carbon nanotube thick layers for electronic applications / Musso, S., Bianco, S., Giorcelli, M., Gonnelli, R., Tagliaferro, A.. - (2008). (IEEE International Nanoelectronics Conference (INEC) 2008 Shanghai, China 24-28 March 2008).
Study of carbon nanotube thick layers for electronic applications
MUSSO, SIMONE;BIANCO, STEFANO;GIORCELLI, MAURO;GONNELLI, Renato;TAGLIAFERRO, Alberto
2008
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https://hdl.handle.net/11583/2287135
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