A comprehensive numerical model of impact ionization in ZnO for high field device simulation / F. BERTAZZI; GOANO M.; E. BELLOTTI. - (2007). ((Intervento presentato al convegno The 2007 U.S. Workshop on the Physics and Chemistry of II-VI Materials tenutosi a Baltimore, MD.
Titolo: | A comprehensive numerical model of impact ionization in ZnO for high field device simulation | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2007 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1958784
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