A comprehensive numerical model of impact ionization in ZnO for high field device simulation / Bertazzi, Francesco; Goano, Michele; E., Bellotti. - (2007). ((Intervento presentato al convegno The 2007 U.S. Workshop on the Physics and Chemistry of II-VI Materials tenutosi a Baltimore, MD.

A comprehensive numerical model of impact ionization in ZnO for high field device simulation

BERTAZZI, FRANCESCO;GOANO, MICHELE;
2007

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