HREM characterization of nano-composite Au / SiO2 layers / J., Morgiel; Ferraris, Monica; A. M., Janus; D., Chiaretta; M., Pomorska. - (2008). (Intervento presentato al convegno EM'2008 - XIII International Conference on Electron Microscopy tenutosi a Zakopane, PL nel 8 - 11 June 2008).
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https://hdl.handle.net/11583/1957070
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