HREM characterization of nano-composite Au / SiO2 layers / J., M., Ferraris, M., A. M., J., D., C., M., P.. - (2008). (EM'2008 - XIII International Conference on Electron Microscopy Zakopane, PL 8 - 11 June 2008).
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https://hdl.handle.net/11583/1957070
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