PWM-Based Test Stimuli Generation for BIST of High Resolution Sigma-Delta ADCs / D., DE VENUTO; Reyneri, Leonardo. - (2008), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno DATE 2008, International Conference Design and Automation in Europe tenutosi a Munich (D)).

PWM-Based Test Stimuli Generation for BIST of High Resolution Sigma-Delta ADCs

REYNERI, Leonardo
2008

2008
9783981080131
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