Testability Measures Reduce Test Generation Time in Sequential ATPG / Macii, Enrico; Meo, A. R.. - (1992), pp. 985-988. (Intervento presentato al convegno IEEE 26th Asilomar Conference on Signals, Systems and Computers tenutosi a Pacific Grove, CA) [10.1109/ACSSC.1992.269073].
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https://hdl.handle.net/11583/1870729
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