Simplifying Sequential Gate-Level Test Generation Through Exploitation of High-Level Information / Ferrandi, F; Fummi, F; Macii, Enrico; Poncino, Massimo; Sciuto, D.. - (1996), pp. 154-158. (Intervento presentato al convegno ETW-96: IEEE 1996 European Test Workshop tenutosi a Montpellier, France).
Simplifying Sequential Gate-Level Test Generation Through Exploitation of High-Level Information
MACII, Enrico;PONCINO, MASSIMO;
1996
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https://hdl.handle.net/11583/1870602
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