Test Generation for Sequential Networks Affected by Reconvergent Fanout: a Solution based on a 9-Valued Algebraic Circuit Model / MACII E.; MEO A. R. - (1992), pp. 980-984. ((Intervento presentato al convegno IEEE 26th Asilomar Conference on Signals, Systems and Computers tenutosi a Pacific Grove, CA.
Titolo: | Test Generation for Sequential Networks Affected by Reconvergent Fanout: a Solution based on a 9-Valued Algebraic Circuit Model |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1992 |
ISBN: | 0818631600 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1870410
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