Archivio Istituzionale della RicercaTest Generation for Gate Level Sequential Machines: Algorithms and Implementation Issues / Lioy, Antonio; Macii, Enrico; Meo, A. R.. - (1992), pp. 262-267. (Intervento presentato al convegno CompEuro'92: IEEE 1992 International Conference on Software Engineering tenutosi a Den Haag, The Netherlands) [10.1109/CMPEUR.1992.218499].
Test Generation for Gate Level Sequential Machines: Algorithms and Implementation Issues
LIOY, ANTONIO;MACII, Enrico;
1992
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https://hdl.handle.net/11583/1870389
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