Influence of the IEC 61967 Test Board on IC Electromagnetic Emissions / VILLAVICENCIO AREVALO, YAMARITA DEL CARMEN; Musolino, Francesco; Fiori, Franco; D., Pandini. - 20th:(2009), pp. 281-284. ((Intervento presentato al convegno EMC Zurich 2009 tenutosi a Zurich, Switzerland nel January 12 - January 16, 2009 [10.1109/EMCZUR.2009.4783445].

Influence of the IEC 61967 Test Board on IC Electromagnetic Emissions

VILLAVICENCIO AREVALO, YAMARITA DEL CARMEN;MUSOLINO, FRANCESCO;FIORI, Franco;
2009

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11583/1849300