Analysis of X Ray Diffraction Signal of Carbon Nanostructures / N., Kalra; Rovere, Massimo; Bianco, Stefano; Giorcelli, Mauro; Musso, Simone; Tagliaferro, Alberto. - (2008). (Intervento presentato al convegno International Conference on Nano and Microelectronics (ICONAME 2008) tenutosi a Puducherry, India nel January 3-5, 2008).
Analysis of X Ray Diffraction Signal of Carbon Nanostructures
ROVERE, MASSIMO;BIANCO, STEFANO;GIORCELLI, MAURO;MUSSO, SIMONE;TAGLIAFERRO, Alberto
2008
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https://hdl.handle.net/11583/1847914
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