Archivio Istituzionale della RicercaOn the evaluation of radiation-induced transient faults in Flash-based FPGAs / Battezzati, N., Gerardin, S., Manuzzato, A., Paccagnella, A., Rezgui, S., Sterpone, L., Violante, M.. - (2008), pp. 135-140. (14th IEEE International On-Line Testing Symposium ) [10.1109/IOLTS.2008.47].
On the evaluation of radiation-induced transient faults in Flash-based FPGAs
BATTEZZATI, NICCOLO';STERPONE, Luca;VIOLANTE, MASSIMO
2008
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1833805
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo