Influence of the 1 Ω method test setup on IC conducted emission measurements / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2002), pp. 289-292. (Intervento presentato al convegno 16th International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility tenutosi a Wroclaw, Poland nel June 25-28, 2002).
Influence of the 1 Ω method test setup on IC conducted emission measurements
FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1675122
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