Influence of the 1 Ω method test setup on IC conducted emission measurements / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - (2002), pp. 289-292. ((Intervento presentato al convegno 16th International Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility tenutosi a Wroclaw, Poland nel June 25-28, 2002.

Influence of the 1 Ω method test setup on IC conducted emission measurements

FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO
2002

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