Weakness of the TEM cell method in evaluating IC radiated emissions / Fiori, Franco; Musolino, Francesco; Pozzolo, Vincenzo. - (2001), pp. 135-138. (Intervento presentato al convegno IEEE Int. Symp on electromagnetic compatibility tenutosi a Montreal (CA) nel aug. 2001).

Weakness of the TEM cell method in evaluating IC radiated emissions

FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO;POZZOLO, Vincenzo
2001

2001
9780780365698
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