A method able to reduce residual calibration uncer- tainty of real-time load-pull measurements, by means of error terms optimization, is proposed in this pa- per. It has been first tested with simulations, then it has been applied to real measurement data, proving a considerable uncertainty reduction.

Accuracy Improvement of on-wafer load-pull measurements / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Teppati, Valeria; D., Parena; Pisani, Umberto. - STAMPA. - (2006), pp. 278-279. ((Intervento presentato al convegno IEEE Conference on Precision Eletromagnetic Measurements tenutosi a Torino nel 14-16 July.

Accuracy Improvement of on-wafer load-pull measurements

FERRERO, ANDREA PIERENRICO;TEPPATI, VALERIA;PISANI, Umberto
2006

Abstract

A method able to reduce residual calibration uncer- tainty of real-time load-pull measurements, by means of error terms optimization, is proposed in this pa- per. It has been first tested with simulations, then it has been applied to real measurement data, proving a considerable uncertainty reduction.
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
CPEM2006_II.pdf

non disponibili

Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione 707.06 kB
Formato Adobe PDF
707.06 kB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1670108
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo