Fully digital Optimized Testing and Calibration of Sigma-Delta ADC's / DE VENUTO, D; Reyneri, Leonardo. - (2007), pp. 519-526. (Intervento presentato al convegno ISQED International Symposium on Quality Electronic Design tenutosi a San Jose (CA) nel luglio 2007).
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https://hdl.handle.net/11583/1665245
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