Measurement-based large-signal diode model, automated data acquisition system, and verifcation with on-wafer power harmonic measurements / Root, D; Pirola, Marco; Fan, S; Cognata, A.. - 1:(1993), pp. 261-264. (Intervento presentato al convegno IEEE MTT-S International Microwave Symposium tenutosi a San Diego, USA nel Luglio 1993) [10.1109/MWSYM.1993.276828].
Measurement-based large-signal diode model, automated data acquisition system, and verifcation with on-wafer power harmonic measurements
PIROLA, Marco;
1993
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https://hdl.handle.net/11583/1663439
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