Physics-based two-dimensional numerical noise modelling of GaAs FETs: discussion and experimental validation / Ghione, Giovanni; Pirola, Marco. - (1991), pp. 617-620. (Intervento presentato al convegno International Semiconductor Device Research Symposium tenutosi a Charlottesville, USA nel 4-6 December).

Physics-based two-dimensional numerical noise modelling of GaAs FETs: discussion and experimental validation

GHIONE, GIOVANNI;PIROLA, Marco
1991

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1663434
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