The impact ionization phenomena in GaAs MESFETs: experimental results and simulations / Neviani, A., Naldi, C., Pirola, M., Tedesco, C., Zanoni, E.. - (1991). (18 International Symposium on Gallium Arsenide and Related Compounds Seattle, USA 9-12 September).
The impact ionization phenomena in GaAs MESFETs: experimental results and simulations
PIROLA, Marco;
1991
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https://hdl.handle.net/11583/1663190
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