Archivio Istituzionale della RicercaGrowth and characterization of SiC layers obtained by microwave-CVD / Mandracci, P., Ferrero, S., Cicero, G., Giorgis, F., Pirri, C., G., B., R., R., P., M., L., C., G., F.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 383:(2001), pp. 169-174.
Growth and characterization of SiC layers obtained by microwave-CVD
MANDRACCI, Pietro;FERRERO, SERGIO;CICERO, Giancarlo;GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;
2001
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1661266
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo