Brightness degradation controlled by current induced metastable defect creation in a-SiC:H based light emitting diodes / R., Rizzoli; C., Summonte; R., Galloni; M., Ruth; A., Desalvo; F., Zignani; P., Rava; F., Demichelis; Pirri, Candido; Tresso, Elena Maria; G., Crovini; Giorgis, Fabrizio; A., Madan. - 377:(1995), pp. 809-811. ((Intervento presentato al convegno MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS [10.1557/PROC-377-809].

Brightness degradation controlled by current induced metastable defect creation in a-SiC:H based light emitting diodes

PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria;GIORGIS, FABRIZIO;
1995

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