Thermal modulated ESR for the study of defects in a-SiC:H films / F., Demichelis; F., Giorgis; Pirri, Candido; E., Tresso; L., Ravera; V., Rigato. - 336:(1994), pp. 539-541. (Intervento presentato al convegno MATERIALS RESEARCH SOCIETY SYMPOSIA PROCEEDINGS).
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https://hdl.handle.net/11583/1661213
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