Management Uncertainty analysis of point by point sampling complex surfaces using touch probe CMMs / BARINI E.M.; G. TOSELLO; L. DE CHIFFRE. - (2007). ((Intervento presentato al convegno CIRP International Seminar on Computer Aided Tolerancing tenutosi a Erlangen nel 21-23 Marzo 2007.
Titolo: | Management Uncertainty analysis of point by point sampling complex surfaces using touch probe CMMs | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2007 | |
ISBN: | 9783832260361 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1648703
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