Defects localization and nature in bulk and thin film ultrananocrystalline diamond / A. I., Shames; A. M., Panich; Porro, Samuele; Rovere, Massimo; Musso, Simone; Tagliaferro, Alberto; M. V., Baidakova; Osipov, V. Y. U.; Vul, A. Y. A.; T., Enoki; M., Takahashi; E., Osawa; O. A., Williams; P., Bruno; D. M., Gruen. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 16:(2007), pp. 1806-1812. [10.1016/j.diamond.2007.08.026]

Defects localization and nature in bulk and thin film ultrananocrystalline diamond

PORRO, SAMUELE;ROVERE, MASSIMO;MUSSO, SIMONE;TAGLIAFERRO, Alberto;
2007

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