High-Level Optimization of Built-In Self Test for Analog to Digital Converters / D., DE VENUTO; Reyneri, Leonardo. - (2006), pp. 101-104. (Intervento presentato al convegno MELECON 2006 tenutosi a Benalmadena (E)).

High-Level Optimization of Built-In Self Test for Analog to Digital Converters

REYNERI, Leonardo
2006

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1613022
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