High-Level Optimization of Built-In Self Test for Analog to Digital Converters / D., DE VENUTO; Reyneri, Leonardo. - (2006), pp. 101-104. (Intervento presentato al convegno MELECON 2006 tenutosi a Benalmadena (E)).
High-Level Optimization of Built-In Self Test for Analog to Digital Converters
REYNERI, Leonardo
2006
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https://hdl.handle.net/11583/1613022
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