A critical assessment of the TEM cell IC susceptibility test method / Fiori, Franco; Musolino, Francesco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2002), pp. 499-502. (Intervento presentato al convegno EMC Europe 2002 : International Symposium on Electromagnetic Compatibility tenutosi a Sorrento (ITA) nel September 9-13, 2002).

A critical assessment of the TEM cell IC susceptibility test method

FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO;CROVETTI, Paolo Stefano
2002

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1513607
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo