A critical assessment of the TEM cell IC susceptibility test method / Fiori, Franco; Musolino, Francesco; Crovetti, Paolo Stefano. - (2002), pp. 499-502. (Intervento presentato al convegno EMC Europe 2002 : International Symposium on Electromagnetic Compatibility tenutosi a Sorrento (ITA) nel September 9-13, 2002).
A critical assessment of the TEM cell IC susceptibility test method
FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO;CROVETTI, Paolo Stefano
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1513607
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