Archivio Istituzionale della RicercaSW-Based Fault Handling Mechanisms to Cope with EMI in Embedded Electronics: are they a good remedy? A Case Study on a COTS Microprocessor / F. L., Vargas; D., Brum; D. P., Prestes; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; E. L., Rhod. - (2003). (Intervento presentato al convegno 9th IEEE International On-Line Test Symposium - IOLTS'03 tenutosi a Kos Island, Greece nel July 7-9).
SW-Based Fault Handling Mechanisms to Cope with EMI in Embedded Electronics: are they a good remedy? A Case Study on a COTS Microprocessor
VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria;
2003
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https://hdl.handle.net/11583/1499699
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