SW-Based Fault Handling Mechanisms to Cope with EMI in Embedded Electronics: are they a good remedy? A Case Study on a COTS Microprocessor / F. L., Vargas; D., Brum; D. P., Prestes; VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria; E. L., Rhod. - (2003). (Intervento presentato al convegno 9th IEEE International On-Line Test Symposium - IOLTS'03 tenutosi a Kos Island, Greece nel July 7-9).

SW-Based Fault Handling Mechanisms to Cope with EMI in Embedded Electronics: are they a good remedy? A Case Study on a COTS Microprocessor

VEIRAS BOLZANI, Leticia Maria;
2003

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1499699
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo