Archivio Istituzionale della RicercaPrediction of EMI-Induced Distortion Phenomena in CMOS Opamps by a New Large-Signal Model / Fiori, Franco; Crovetti, Paolo Stefano. - STAMPA. - 2:(2004), pp. 253-256. (Intervento presentato al convegno int. symp. on emc - senday - 2004 tenutosi a senday (japan) nel may).
Prediction of EMI-Induced Distortion Phenomena in CMOS Opamps by a New Large-Signal Model
FIORI, Franco;CROVETTI, Paolo Stefano
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1411582
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