A new technique for the measurement of IC susceptibility to electrical fast transient / Fiori, Franco; Musolino, Francesco. - 1:(2004), pp. 147-150. (Intervento presentato al convegno International Symposium on Electromagnetic Compatibility nel sept.).
A new technique for the measurement of IC susceptibility to electrical fast transient
FIORI, Franco;MUSOLINO, FRANCESCO
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1411579
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