Archivio Istituzionale della RicercaINTEGRATED CIRCUITS IMMUNITY EVALUATION BY DIFFERENT TEST PROCEDURES / Fiori, Franco. - (1999), pp. 286-289. (Intervento presentato al convegno PROCEEDINGS OF THE 2nd INT. CONF. ON COMPUTATIONAL ELECTROMAGNETICS AND IT'S APP nel 01-JAN-99-).
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https://hdl.handle.net/11583/1411569
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