Microscopia a forza atomica: applicazione nello studio di interfacce in compositi a matrice metallica / Fino, Paolo; Badini, CLAUDIO FRANCESCO; Gonnelli, Renato. - Atti su CD:(2002). (Intervento presentato al convegno 29° convegno nazionale AIM nel 2002).

Microscopia a forza atomica: applicazione nello studio di interfacce in compositi a matrice metallica

FINO, Paolo;BADINI, CLAUDIO FRANCESCO;GONNELLI, Renato
2002

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1411493
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo