Microscopia a forza atomica: applicazione nello studio di interfacce in compositi a matrice metallica / Fino, P., Badini, C.F., Gonnelli, R.. - Atti su CD:(2002). (29° convegno nazionale AIM 2002).

Microscopia a forza atomica: applicazione nello studio di interfacce in compositi a matrice metallica

FINO, Paolo;BADINI, CLAUDIO FRANCESCO;GONNELLI, Renato
2002

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1411493
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