Impact of Substrate Resistance on Drain Current Noise in MOSFETs / Goo, J.S., DONATI GUERRIERI, S., Choi, C.H., Yu, Z., Lee, H., Dutton, R.W.. - (2001), p. 182. (INT. CONF. ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD) ).
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https://hdl.handle.net/11583/1411080
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