System-level Analysis of Fault Effects in an Automotive Environment / Corno, F., P., G., S., T.. - (2003). (DFT2003: IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems ).

System-level Analysis of Fault Effects in an Automotive Environment

CORNO, Fulvio;
2003

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1409808
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