HD-BIST: a hierarchical framework for BIST scheduling and diagnosis in SOCs / BENSO A.; CATALDO S.; CHIUSANO S.; PRINETTO P; ZORIAN Y.. - STAMPA. - (1999), pp. 1038-1044. ((Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Atlantic City, NJ nel 27-30 September 1999.
Titolo: | HD-BIST: a hierarchical framework for BIST scheduling and diagnosis in SOCs |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1999 |
ISBN: | 0780357531 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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http://hdl.handle.net/11583/1408862
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