GRAAL: a tool for highly dependable SRAMs generation / Chiusano, S.A., DI NATALE, G., Prinetto, P.E., Bigongiari, F.. - (2001), pp. 250-257. (IEEE International Test Conference 30 October - 1 November 2001).
GRAAL: a tool for highly dependable SRAMs generation
CHIUSANO, SILVIA ANNA;PRINETTO, Paolo Ernesto;
2001
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1408843
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
