Exploiting Circuit Emulation for Fast Hardness Evaluation / Civera, Pierluigi; L., Macchiarulo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 2210-2216.

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