Exploiting Circuit Emulation for Fast Hardness Evaluation / Civera, P., L., M., Rebaudengo, M., SONZA REORDA, M., Violante, M.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48:(2001), pp. 2210-2216.

Exploiting Circuit Emulation for Fast Hardness Evaluation

CIVERA, PIERLUIGI;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;VIOLANTE, MASSIMO
2001

2001
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