Bayesian techniques to reduce the sample size in automotive electronics attribute testing / Kleyner, A.; Bhagath, S.; Gasparini, Mauro; Robinson, J.; Bender, M.. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 37:(1997), pp. 879-883.
Bayesian techniques to reduce the sample size in automotive electronics attribute testing.
GASPARINI, Mauro;
1997
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https://hdl.handle.net/11583/1401362
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