Archivio Istituzionale della RicercaCorrelation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Mandracci, Pietro; Cocuzza, Matteo; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Castaldini, A.. - 433-436:(2003), pp. 455-458.
Correlation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes
SCALTRITO, LUCIANO;PORRO, SAMUELE;GIORGIS, FABRIZIO;MANDRACCI, Pietro;COCUZZA, MATTEO;PIRRI, Candido;RICCIARDI, Carlo;FERRERO, SERGIO;
2003
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https://hdl.handle.net/11583/1400377
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