Archivio Istituzionale della RicercaPhysics-based large-signal sensitivity analysis of microwave circuits using technological parametric sensitivity from multidimensional semiconductor device models / Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Filicori, F; Ghione, Giovanni; Pirola, Marco. - In: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES. - ISSN 0018-9480. - 45:(1997), pp. 846-855. [10.1109/22.575609]
Physics-based large-signal sensitivity analysis of microwave circuits using technological parametric sensitivity from multidimensional semiconductor device models
BONANI, Fabrizio;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI;PIROLA, Marco
1997
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