Archivio Istituzionale della RicercaSOLID STATE ELECTRONICS
On the application of the Kirchhoff transformation to the steady-state thermal analysis of semiconductor devices with temperature-dependent and piecewise inhomogeneous thermal conductivity / Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 38:(1995), pp. 1409-1412. [10.1016/0038-1101(94)00255-E]
On the application of the Kirchhoff transformation to the steady-state thermal analysis of semiconductor devices with temperature-dependent and piecewise inhomogeneous thermal conductivity
BONANI, Fabrizio;GHIONE, GIOVANNI
1995
Abstract
SOLID STATE ELECTRONICS
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https://hdl.handle.net/11583/1397425
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