SOLID STATE ELECTRONICS
Generation-recombination noise modelling in semiconductor devices through population or approximate equivalent current density fluctuations / BONANI F.; GHIONE G. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 43(1999), pp. 285-295.
Titolo: | Generation-recombination noise modelling in semiconductor devices through population or approximate equivalent current density fluctuations |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1999 |
Rivista: | |
Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1016/S0038-1101(98)00253-6 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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SSE 99.pdf | 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11583/1397423
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