Archivio Istituzionale della RicercaMUSSO, MARTA
MUSSO, MARTA
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
061821
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Spectral and Allan deviation analyses of offset, drift and low-frequency noise cancellation schemes in measurements
2026 Musso, Marta; Ortolano, Massimo
A graphene star-mesh quantized Hall array resistance standard for the calibration of resistances at the GΩ level
2025 Musso, Marta; Lin, Wei-Chen; Yang, Yanfei; Tran, Ngoc Thanh Mai; Panna, Alireza R.; Yang, Cheng-Hsueh; Elmquist, Randolph E.; Newell, David B.; Liang, Chi-Te; Ortolano, Massimo; Rigosi, Albert F.; Jarrett, Dean G.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Spectral and Allan deviation analyses of offset, drift and low-frequency noise cancellation schemes in measurements / Musso, M., Ortolano, M.. - (2026). (35th edition of the Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2026) Madrid (Spa) 06-11 September 2026). | 1-gen-2026 | Musso, MartaOrtolano, Massimo | Musso_CPEM2026_poster.pdf |
| A graphene star-mesh quantized Hall array resistance standard for the calibration of resistances at the GΩ level / Musso, M., Lin, W., Yang, Y., Tran, N.T.M., Panna, A.R., Yang, C., Elmquist, R.E., Newell, D.B., Liang, C., Ortolano, M., Rigosi, A.F., Jarrett, D.G.. - (2025). (International school of physics “Enrico Fermi” Varenna (Ita) ). | 1-gen-2025 | Musso, MartaOrtolano, Massimo + | Musso_Varenna2025.pdf |