CAI, JIALE

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Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

060173  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Reliability Assessment of Nanoscale System on Chip Depending on Neturon Irradiation / Yang, W., Li, Y., Hu, Z., He, C., Cai, J., Wu, L.. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - (2023). 1-gen-2023 Weitao,YangJiale,Cai + AIP-Reliability Evaluation-20220207.pdf