LARBI, MOURAD

LARBI, MOURAD  

Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

041559  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Machine Learning and Uncertainty Quantification for Surrogate Models of Integrated Devices with a Large Number of Parameters / Trinchero, R.; Larbi, M.; Torun, H. M.; Canavero, F. G.; Swaminathan, M.. - In: IEEE ACCESS. - ISSN 2169-3536. - ELETTRONICO. - 7:(2019), pp. 4056-4066. [10.1109/ACCESS.2018.2888903] 1-gen-2019 Trinchero R.Larbi M.Canavero F. G. + FINAL VERSION.pdf08584446.pdf
Variability Impact of Many Design Parameters: The Case of a Realistic Electronic Link / Larbi, Mourad; Stievano, IGOR SIMONE; Canavero, Flavio; Besnier, Philippe. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY. - ISSN 0018-9375. - STAMPA. - 60:1(2018), pp. 34-41. [10.1109/TEMC.2017.2727961] 1-gen-2018 LARBI, MOURADSTIEVANO, IGOR SIMONECANAVERO, Flavio + jnl-2018-TEMC-PC-ieee.pdfjnl-2018-TEMC-PC.pdf